1.器械選擇：牙周探診用牙周探針，探查根面牙石和根分叉病變時(shí)用普通探針。

2.改良握筆式，口內(nèi)或口外支點(diǎn)。

3.探診力量輕，探針與牙長(zhǎng)軸平行，沿根面深入牙周袋或齦溝，以提插方式移動(dòng)探針，探鄰面時(shí)緊貼接觸點(diǎn)探入，略向齦谷方向傾斜，有一定順序。

4.探查位點(diǎn)：探診包括六個(gè)位點(diǎn)，近中頰、頰面、遠(yuǎn)中頰、近中舌、舌面、遠(yuǎn)中舌。

5.探診內(nèi)容：牙周袋探診深度、附著水平、探診出血、根面牙石和根分叉病變。

【該題針對(duì)“ 囗腔特殊檢查 ”知識(shí)點(diǎn)進(jìn)行考核】

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